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  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

統計的遅延品質モデル(SDQM)のフィージビリティ評価

http://hdl.handle.net/10228/00006280
http://hdl.handle.net/10228/00006280
dc21b0ad-465a-4a02-8685-7ac1f3d5b72d
名前 / ファイル ライセンス アクション
j89_d_8.pdf j89_d_8.pdf (579.0 kB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2017-08-03
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル 統計的遅延品質モデル(SDQM)のフィージビリティ評価
言語 ja
タイトル
タイトル Feasibility Evaluation of the Statistical Delay Quality Model (SDQM)
言語 en
言語
言語 jpn
著者 佐藤, 康夫

× 佐藤, 康夫

WEKO 20357

ja 佐藤, 康夫

en Sato, Yasuo

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浜田, 周治

× 浜田, 周治

WEKO 20358

ja 浜田, 周治

en Hamada, Syuji

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前田, 敏行

× 前田, 敏行

WEKO 20359

ja 前田, 敏行

en Maeda, Toshiyuki

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高取, 厚夫

× 高取, 厚夫

WEKO 20360

ja 高取, 厚夫

en Takatori, Atsuo

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野津山, 泰行

× 野津山, 泰行

WEKO 20361

ja 野津山, 泰行

en Nozuyama, Yasuyuki

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梶原, 誠司

× 梶原, 誠司

WEKO 1147
e-Rad 80252592
Scopus著者ID 7005061314

ja 梶原, 誠司

en Kajihara, Seiji

ja-Kana カジハラ, セイジ


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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 遅延テストの品質評価には,遷移遅延故障モデルが広く用いられてきた.しかし,論理的な網羅性のみに着目しているため,微小な遅延欠陥の検出能力は明らかでなかった.そこで筆者らは微小な遅延欠陥の検出能力を,半導体製造プロセスの品質,設計の遅延変動に対するロバスト性,テストタイミング精度,及びテストパターンの論理的網羅性を総合的に反映して求める統計的遅延品質モデル(SDQM:statistical delay quality model)を提案し,本論文では,その大規模データに対するフィージビリティを評価した.商用のテスト生成ツールによるテストパターンを用いてSDQM の計算を行い,SDQMの計算の処理時間とメモリ量が適用可能なレベルであることを確認した.また,本モデルを用いたテストパターンの分析により,従来の遷移遅延故障モデルによるテストパターンは,長い論理パスが活性化されて初めて可能になる微小遅延欠陥の検出能力が十分でなく,アルゴリズム改良が必要なことを,定量的に示すことができた.
言語 ja
書誌情報 ja : 電子情報通信学会論文誌. D, 情報・システム

巻 J89-D, 号 8, p. 1717-1728, 発行日 2006-08-01
出版社
出版者 電子情報通信学会
言語 ja
CRID
識別子タイプ CRID
関連識別子 https://cir.nii.ac.jp/crid/1050282813887722368
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA12099634
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 1880-4535
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1881-0225
著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) (社)電子情報通信学会 2006
キーワード
主題Scheme Other
主題 遅延テスト
キーワード
主題Scheme Other
主題 故障モデル
キーワード
主題Scheme Other
主題 遷移遅延故障
キーワード
主題Scheme Other
主題 テスト品質
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
査読の有無
値 yes
連携ID
値 934
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Ver.1 2023-05-15 13:17:44.332903
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