ログイン
言語:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation

http://hdl.handle.net/10228/00006378
http://hdl.handle.net/10228/00006378
489ad007-cc42-4c33-a7e8-be227e169dc7
名前 / ファイル ライセンス アクション
1_104.pdf 1_104.pdf (381.6 kB)
Item type 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2017-09-20
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation
言語 en
言語
言語 eng
著者 梶原, 誠司

× 梶原, 誠司

WEKO 1147
e-Rad 80252592
Scopus著者ID 7005061314

ja 梶原, 誠司

en Kajihara, Seiji

ja-Kana カジハラ, セイジ


Search repository
Morishima, Shohei

× Morishima, Shohei

WEKO 20748

en Morishima, Shohei

Search repository
Yamamoto, Masahiro

× Yamamoto, Masahiro

WEKO 20749

en Yamamoto, Masahiro

Search repository
温, 暁青

× 温, 暁青

WEKO 1143
e-Rad 20250897
Scopus著者ID 7201738030
九工大研究者情報 300

en Wen, Xiaoqing

ja 温, 暁青

ja-Kana オン, ギョウセイ


Search repository
Fukunaga, Masayasu

× Fukunaga, Masayasu

WEKO 20751

en Fukunaga, Masayasu

Search repository
Hatayama, Kazumi

× Hatayama, Kazumi

WEKO 20752

en Hatayama, Kazumi

Search repository
Aikyo, Takashi

× Aikyo, Takashi

WEKO 20753

en Aikyo, Takashi

Search repository
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 As a method to evaluate delay test quality of test patterns, SDQM (Statistical Delay Quality Model) has been proposed for transition faults. In order to derive better test quality by SDQM, the following two things are important: for each transition fault, (1) to find out the accurate length of the longest sensitizable paths along which the fault is activated and propagated, and (2) to generate a test pattern that detects the fault through as long paths as possible. In this paper, we propose a method to calculate the length of the potentially sensitizable longest path for detection of a transition fault. In addition, we develop a procedure to extract path information that helps high quality transition ATPG. Experimental results show that the proposed method improves SDQL (Statistical Delay Quality Level) by not only accurate calculation of the longest sensitizable paths but also detection of faults through longer paths.
言語 en
書誌情報 en : IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology

巻 1, p. 104-115, 発行日 2008-08-27
出版社
出版者 情報処理学会
言語 ja
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.2197/ipsjtsldm.1.104
CRID
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ URI
関連識別子 https://cir.nii.ac.jp/crid/1010000782469395713
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1882-6687
著作権関連情報
言語 en
権利情報 Copyright (c) 2008 by the Information Processing Society of Japan. Notice for the use of this material The copyright of this material is retained by the Information Processing Society of Japan (IPSJ). This material is published on this web site with the agreement of the author (s) and the IPSJ. Please be complied with Copyright Law of Japan and the Code of Ethics of the IPSJ if any users wish to reproduce, make derivative work, distribute or make available to the public any part or whole thereof. All Rights Reserved, Copyright (C) Information Processing Society of Japan.
著作権関連情報
言語 ja
権利情報 ここに掲載した著作物の利用に関する注意 本著作物の著作権は情報処理学会に帰属します。本著作物は著作権者である情報処理学会の許可のもとに掲載するものです。ご利用に当たっては「著作権法」ならびに「情報処理学会倫理綱領」に従うことをお願いいたします。
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
査読の有無
値 yes
連携ID
値 620
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2023-05-15 14:07:21.549155
Show All versions

Share

Mendeley Twitter Facebook Print Addthis

Cite as

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX

Confirm


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3