ログイン
Language:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

シグナルインテグリティ考慮型LSIテストを目指して

http://hdl.handle.net/10228/00007519
http://hdl.handle.net/10228/00007519
b01b9e6e-d035-43a4-a8fb-b1e363ffbd29
名前 / ファイル ライセンス アクション
reajshinrai.31.7_498.pdf reajshinrai.31.7_498.pdf (1.3 MB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2020-01-09
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル シグナルインテグリティ考慮型LSIテストを目指して
言語 ja
タイトル
タイトル Towards Signal-Integrity-Aware LSI Testing
言語 en
言語
言語 jpn
著者 温, 暁青

× 温, 暁青

WEKO 1143
e-Rad 20250897
Scopus著者ID 7201738030
九工大研究者情報 300

en Wen, Xiaoqing

ja 温, 暁青


Search repository
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 LSIの大規模化,微細化,高速化,及び低電圧化に伴い,テスト時の信号劣化が深刻な問題になってきている.信号劣化は誤ったテスト結果を引き起こし,歩留りを低下させる危険性を持っている.本稿では,まずLSIテストに多用されるスキャン方式を説明し,それに関連する様々なシグナルインテグリティ問題を明らかにする.次に,シグナルインテグリティ問題の1つである電源ノイズの原因となるIRドロップを削減する技術を紹介する.最後に,種々のシグナルインテグリティ問題を体系的に解決するSIAT(Signal-Integrity-Aware Testing)の概念を提起し,関連する研究テーマを探る.
言語 ja
書誌情報 ja : 日本信頼性学会誌

巻 31, 号 7, p. 498-505, 発行日 2009-10-01
出版社
出版者 日本信頼性学会
言語 ja
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.11348/reajshinrai.31.7_498
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 549
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN10540883
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 0919-2697
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 2424-2543
著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) 2009 日本信頼性学会
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
査読の有無
値 yes
研究者情報
URL https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html
論文ID(連携)
値 10029827
連携ID
値 8029
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2023-05-15 14:07:40.792287
Show All versions

Share

Share
tweet

Cite as

Other

print

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX
  • ZIP

コミュニティ

確認

確認

確認


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3