WEKO3
アイテム
シグナルインテグリティ考慮型LSIテストを目指して
http://hdl.handle.net/10228/00007519
http://hdl.handle.net/10228/00007519b01b9e6e-d035-43a4-a8fb-b1e363ffbd29
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||
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| 公開日 | 2020-01-09 | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | journal article | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | シグナルインテグリティ考慮型LSIテストを目指して | |||||
| 言語 | ja | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Towards Signal-Integrity-Aware LSI Testing | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 著者 |
温, 暁青
× 温, 暁青 |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | LSIの大規模化,微細化,高速化,及び低電圧化に伴い,テスト時の信号劣化が深刻な問題になってきている.信号劣化は誤ったテスト結果を引き起こし,歩留りを低下させる危険性を持っている.本稿では,まずLSIテストに多用されるスキャン方式を説明し,それに関連する様々なシグナルインテグリティ問題を明らかにする.次に,シグナルインテグリティ問題の1つである電源ノイズの原因となるIRドロップを削減する技術を紹介する.最後に,種々のシグナルインテグリティ問題を体系的に解決するSIAT(Signal-Integrity-Aware Testing)の概念を提起し,関連する研究テーマを探る. | |||||
| 言語 | ja | |||||
| 書誌情報 |
ja : 日本信頼性学会誌 巻 31, 号 7, p. 498-505, 発行日 2009-10-01 |
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| 出版社 | ||||||
| 出版者 | 日本信頼性学会 | |||||
| 言語 | ja | |||||
| DOI | ||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.11348/reajshinrai.31.7_498 | |||||
| 日本十進分類法 | ||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||
| 主題 | 549 | |||||
| NCID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN10540883 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||
| 収録物識別子 | 0919-2697 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||
| 収録物識別子 | 2424-2543 | |||||
| 著作権関連情報 | ||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2009 日本信頼性学会 | |||||
| 出版タイプ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
| 査読の有無 | ||||||
| 値 | yes | |||||
| 研究者情報 | ||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html | |||||
| 論文ID(連携) | ||||||
| 値 | 10029827 | |||||
| 連携ID | ||||||
| 値 | 8029 | |||||