WEKO3
アイテム
On Achieving Capture Power Safety in At-Speed Scan-Based Logic BIST
http://hdl.handle.net/10228/00007527
http://hdl.handle.net/10228/000075274d80c22e-9d20-4325-832e-b0d08674ff33
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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transinf.2014EDP7039.pdf (3.6 MB)
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||
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| 公開日 | 2020-01-14 | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | On Achieving Capture Power Safety in At-Speed Scan-Based Logic BIST | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||
| 著者 |
Tomita, Akihiro
× Tomita, Akihiro× 温, 暁青× Sato, Yasuo× 梶原, 誠司× 宮瀬, 紘平
WEKO
6567
× ホルスト, シュテファン× Girard, Patrick× Tehranipoor, Mohammad× Wang, Laung-Terng |
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| 抄録 | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||
| 内容記述 | The applicability of at-speed scan-based logic built-in self-test (BIST) is being severely challenged by excessive capture power that may cause erroneous test responses even for good circuits. Different from conventional low-power BIST, this paper is the first to explicitly focus on achieving capture power safety with a novel and practical scheme, called capture-power-safe logic BIST (CPS-LBIST). The basic idea is to identify all possibly-erroneous test responses caused by excessive capture power and use the well-known approach of masking (bit-masking, slice-masking, vector-masking) to block them from reaching the multiple-input signature register (MISR). Experiments with large benchmark circuits and a large industrial circuit demonstrate that CPS-LBIST can achieve capture power safety with negligible impact on test quality and circuit overhead. | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 書誌情報 |
en : IEICE Transactions on Information and Systems 巻 E97.D, 号 10, p. 2706-2718, 発行日 2014-10-01 |
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| 出版社 | ||||||||||||||
| 出版者 | 電子情報通信学会 | |||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1587/transinf.2014EDP7039 | |||||||||||||
| CRID | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679355372672 | |||||||||||||
| 日本十進分類法 | ||||||||||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||||||||||
| 主題 | 541 | |||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 収録物識別子 | AA10826272 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 1745-1361 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 0916-8532 | |||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2014 The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | at-speed scan-based logic BIST | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | capture power safety | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | masking | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | IR-drop | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | transition delay fault | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | long sensitized path | |||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||
| 研究者情報 | ||||||||||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html | |||||||||||||
| 論文ID（連携） | ||||||||||||||
| 値 | 10274077 | |||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||
| 値 | 8035 | |||||||||||||
