WEKO3
アイテム
Distribution-Controlled X-Identification for Effective Reduction of Launch-Induced IR-Drop in At-Speed Scan Testing
http://hdl.handle.net/10228/00007532
http://hdl.handle.net/10228/000075320c09d903-b390-4cc8-ac75-3b7e368eb95a
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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transinf.E94.D.1216.pdf (2.7 MB)
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||
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| 公開日 | 2020-01-15 | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | Distribution-Controlled X-Identification for Effective Reduction of Launch-Induced IR-Drop in At-Speed Scan Testing | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||
| 著者 |
宮瀬, 紘平
× 宮瀬, 紘平
WEKO
6567
× Noda, Kenji× Ito, Hideaki× Hatayama, Kazumi× Aikyo, Takashi× Yamato, Yuta× Furukawa, Hiroshi× 温, 暁青× 梶原, 誠司 |
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| 抄録 | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||
| 内容記述 | Test data modification based on test relaxation and X-filling is the preferred approach for reducing excessive IR-drop in at-speed scan testing to avoid test-induced yield loss. However, none of the existing test relaxation methods can control the distribution of identified don't care bits (X-bits), thus adversely affecting the effectiveness of IR-drop reduction. In this paper, we propose a novel test relaxation method, called Distribution-Controlled X-Identification (DC-XID), which controls the distribution of X-bits identified in a set of fully-specified test vectors for the purpose of effectively reducing IR-drop. Experiments on large industrial circuits demonstrate the effectiveness and practicality of the proposed method in reducing IR-drop, without lowering fault coverage, increasing test data volume and circuit size. | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 書誌情報 |
en : IEICE Transactions on Information and Systems 巻 E94.D, 号 6, p. 1216-1226, 発行日 2011-06-01 |
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| 出版社 | ||||||||||||||
| 出版者 | 電子情報通信学会 | |||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1587/transinf.E94.D.1216 | |||||||||||||
| CRID | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679354636928 | |||||||||||||
| 日本十進分類法 | ||||||||||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||||||||||
| 主題 | 549 | |||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 収録物識別子 | AA10826272 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 1745-1361 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 0916-8532 | |||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2011 The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | ATPG | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | X-bit | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | X-identification | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | X-filling | |||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||
| 研究者情報 | ||||||||||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html | |||||||||||||
| 論文ID（連携） | ||||||||||||||
| 値 | 10231864 | |||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||
| 値 | 8041 | |||||||||||||
