ログイン
Language:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 学術雑誌論文
  2. 5 技術(工学)

On Delay Test Quality for Test Cubes

http://hdl.handle.net/10228/00007534
http://hdl.handle.net/10228/00007534
3502f427-6fca-4793-a288-cabd06eb1832
名前 / ファイル ライセンス アクション
ipsjtsldm.3.283.pdf ipsjtsldm.3.283.pdf (714.6 kB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2020-01-16
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル On Delay Test Quality for Test Cubes
言語 en
言語
言語 eng
著者 Oku, Shinji

× Oku, Shinji

WEKO 26175

en Oku, Shinji
Oku, S.

Search repository
梶原, 誠司

× 梶原, 誠司

WEKO 1147
e-Rad 80252592
Scopus著者ID 7005061314

ja 梶原, 誠司

en Kajihara, Seiji

ja-Kana カジハラ, セイジ


Search repository
Sato, Yasuo

× Sato, Yasuo

WEKO 26177

en Sato, Yasuo
Sato, Y.

Search repository
宮瀬, 紘平

× 宮瀬, 紘平

WEKO 6567
e-Rad 30452824
Scopus著者ID 6507979281
九工大研究者情報 219

en Miyase, Kohei

ja 宮瀬, 紘平

ja-Kana ミヤセ, コウヘイ


Search repository
温, 暁青

× 温, 暁青

WEKO 1143
e-Rad 20250897
Scopus著者ID 7201738030
九工大研究者情報 300

en Wen, Xiaoqing

ja 温, 暁青


Search repository
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 This paper proposes a method to compute delay values in 3-valued fault simulation for test cubes which are test patterns with unspecified values (Xs). Because the detectable delay size of each fault by a test cube is not fixed before assigning logic values to the Xs in the test cube, the proposed method only computes a range of the detectable delay values of the test patterns covered by the test cubes. By using the proposed method, we derive the lowest and the highest test quality of test patterns covered by the test cubes. Furthermore, we also propose a GA (genetic algorithm)-based method to generate fully specified test patterns with high test quality from test cubes. Experimental results for benchmark circuits show the effectiveness of the proposed methods.
言語 en
書誌情報 en : IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology

巻 3, p. 283-291, 発行日 2010-08-16
出版社
出版者 情報処理学会
言語 ja
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.2197/ipsjtsldm.3.283
CRID
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ URI
関連識別子 https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001205263700480
日本十進分類法
主題Scheme NDC
主題 549
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA12394951
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1882-6687
著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) 2010 by the Information Processing Society of Japan
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
査読の有無
値 yes
研究者情報
URL https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html
論文ID(連携)
値 10029834
連携ID
値 8046
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2023-05-15 14:07:18.928689
Show All versions

Share

Share
tweet

Cite as

Other

print

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX
  • ZIP

コミュニティ

確認

確認

確認


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3