WEKO3
アイテム
A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction During Scan Testing
http://hdl.handle.net/10228/00007572
http://hdl.handle.net/10228/00007572fd8c7468-c989-4996-ba15-cfaab447af1f
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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10029822.pdf (1.7 MB)
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| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||
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| 公開日 | 2020-01-28 | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction During Scan Testing | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||
| 著者 |
温, 暁青
× 温, 暁青× 梶原, 誠司× 宮瀬, 紘平
WEKO
6567
× Suzuki, Tatsuya× Saluja, Kewal K.× Wang, Laung-Terng× Kinoshita, Kozo |
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| 抄録 | ||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||
| 内容記述 | High power dissipation can occur when the response to a test vector is captured by flip-flops in scan testing, resulting in excessive IR drop, which may cause significant capture-induced yield loss in the DSM era. This paper addresses this serious problem with a novel test generation method, featuring a unique algorithm that deterministically generates test cubes not only for fault detection but also for capture power reduction. Compared with previous methods that passively conduct X-filling for unspecified bits in test cubes generated only for fault detection, the new method achieves more capture power reduction with less test set inflation. Experimental results show its effectiveness. | |||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| 書誌情報 |
en : IEICE Transactions on Information and Systems 巻 E90-D, 号 9, p. 1398-1405, 発行日 2007-09-01 |
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| 出版社 | ||||||||||||||
| 出版者 | 電子情報通信学会 | |||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1093/ietisy/e90-d.9.1398 | |||||||||||||
| 日本十進分類法 | ||||||||||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||||||||||
| 主題 | 548 | |||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 収録物識別子 | AA10826272 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 0916-8532 | |||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||
| 収録物識別子 | 1745-1361 | |||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2007 The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | scan testing | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | capture power | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | X-bit | |||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||
| 主題 | IR-drop | |||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||
| 研究者情報 | ||||||||||||||
| URL | https://hyokadb02.jimu.kyutech.ac.jp/html/300_ja.html | |||||||||||||
| 論文ID（連携） | ||||||||||||||
| 値 | 10029822 | |||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||
| 値 | 8079 | |||||||||||||
