WEKO3
アイテム
A power cycling degradation inspector of power semiconductor devices
http://hdl.handle.net/10228/00007909
http://hdl.handle.net/10228/00007909def310e0-8c7b-4f88-8b67-a6e3eb39284e
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
|
|
|
| アイテムタイプ | 学術雑誌論文 = Journal Article(1) | |||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2020-09-30 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||
| タイトル | A power cycling degradation inspector of power semiconductor devices | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||||||
| 著者 |
渡邉, 晃彦
× 渡邉, 晃彦
WEKO
16333
× 大村, 一郎
WEKO
16176
|
|||||||||||||||||||||
| 抄録 | ||||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||||||||||
| 内容記述 | We have proposed a failure analysis based on a real-time monitoring of power devices under acceleration test. The real-time monitoring enables to visualize the mechanism that leads to a failure by obtaining the change of structure inside the device in time domain with high spatial resolution. In this paper, we presented a new analytical instrument based on the proposed failure analysis concept. The essential functions of this instrument are (1) power stress control, (2) non-destructive inspection and (3) water circulation. An original design power-stress control system and a customized scanning acoustic microscopy system enable us a non-destructive inspection inside the device under power cycling test. This instrument exhibits a great advantage especially to monitor failure mechanisms without having to open the module. | |||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||
| 書誌情報 |
en : Microelectronics Reliability 巻 88-90, p. 458-461, 発行日 2018-09-30 |
|||||||||||||||||||||
| 出版社 | ||||||||||||||||||||||
| 出版者 | Elsevier | |||||||||||||||||||||
| DOI | ||||||||||||||||||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1016/j.microrel.2018.06.071 | |||||||||||||||||||||
| 日本十進分類法 | ||||||||||||||||||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||||||||||||||||||
| 主題 | 549 | |||||||||||||||||||||
| NCID | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | AA11538014 | |||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 0026-2714 | |||||||||||||||||||||
| ISSN | ||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 1872-941X | |||||||||||||||||||||
| 著作権関連情報 | ||||||||||||||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 2018 Elsevier Ltd. | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | AM | |||||||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||||||||||||||||||
| 査読の有無 | ||||||||||||||||||||||
| 値 | yes | |||||||||||||||||||||
| 連携ID | ||||||||||||||||||||||
| 値 | 7486 | |||||||||||||||||||||