ログイン
Language:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 学術雑誌論文
  2. 4 自然科学

Structure-based capacitance modeling and power loss analysis for the latest high-performance slant field-plate trench MOSFET

http://hdl.handle.net/10228/00007093
http://hdl.handle.net/10228/00007093
ccb1e110-22a9-43d0-95d2-f03d123f7db9
名前 / ファイル ライセンス アクション
nperc105.pdf nperc105.pdf (1.8 MB)
アイテムタイプ 学術雑誌論文 = Journal Article(1)
公開日 2019-03-25
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
タイトル
タイトル Structure-based capacitance modeling and power loss analysis for the latest high-performance slant field-plate trench MOSFET
言語 en
言語
言語 eng
著者 Kobayashi, Kenya

× Kobayashi, Kenya

WEKO 24179

en Kobayashi, Kenya

Search repository
Sudo, Masaki

× Sudo, Masaki

WEKO 24180

en Sudo, Masaki

Search repository
大村, 一郎

× 大村, 一郎

WEKO 16176
e-Rad 10510670
Scopus著者ID 7003814580
九工大研究者情報 69

en Omura, Ichiro

ja 大村, 一郎

ja-Kana オオムラ, イチロウ


Search repository
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Field-plate trench MOSFETs (FP-MOSFETs), with the features of ultralow on-resistance and very low gate–drain charge, are currently the mainstream of high-performance applications and their advancement is continuing as low-voltage silicon power devices. However, owing to their structure, their output capacitance (Coss), which leads to main power loss, remains to be a problem, especially in megahertz switching. In this study, we propose a structure-based capacitance model of FP-MOSFETs for calculating power loss easily under various conditions. Appropriate equations were modeled for Coss curves as three divided components. Output charge (Qoss) and stored energy (Eoss) that were calculated using the model corresponded well to technology computer-aided design (TCAD) simulation, and we validated the accuracy of the model quantitatively. In the power loss analysis of FP-MOSFETs, turn-off loss was sufficiently suppressed, however, mainly Qoss loss increased depending on switching frequency. This analysis reveals that Qoss may become a significant issue in next-generation high-efficiency FP-MOSFETs.
言語 en
書誌情報 en : Japanese Journal of Applied Physics

巻 57, 号 4S, p. 04FR14, 発行日 2018-03-23
出版社
出版者 応用物理学会
DOI
関連タイプ isVersionOf
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.7567/JJAP.57.04FR14
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA12295836
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 0021-4922
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1347-4065
著作権関連情報
権利情報 Copyright (c) 2018 The Japan Society of Applied Physics
出版タイプ
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
査読の有無
値 yes
連携ID
値 6787
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2023-05-15 13:27:03.686892
Show All versions

Share

Share
tweet

Cite as

Other

print

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX
  • ZIP

コミュニティ

確認

確認

確認


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3